Необходимость тестирования параметров электронных микросхем может возникать как в производственных, так и в лабораторных условиях. Предприятия-потребители часто организуют входной контроль поступающих микросхем и систем. В различных научно-исследовательских работах требуется осуществление контроля граничных данных микроэлектронных элементов, а также проведение сертификационных испытаний.

Тестер цифровых микросхем способен анализировать работу интегральных схем произвольной логики, программируемых логических интегральных схем, микроконтроллеров, микропроцессоров, интегральных схем стандартной логики, запоминающих устройств различных типов (ПЗУ, ОЗУ), аналого-цифровых интегральных схем. Возможна также проверка меток RFID – радиочастотной идентификации.

Тестер цифровых микросхем может быть специальным, разработанным для производственного контроля конкретной электронной продукции, или универсальным, более применимым в ремонтных целях для тестирования самых разных электронных элементов.